济南三泉中石实验仪器有限公司

供应CHY-C2测厚仪

一、特征 ·机械式测量方法,不受测量材料的限制 ·进口优质传感器,测量分辨率高达0.1微米 ·进口优质传动元件,保证了试验结果的稳定性、准确性 ·测量头对薄膜(纸张)的接触面积、接触压力严格遵循相关标准 ·特殊结构设计,保证上下测量平面的平行 ·灵活、方便的配重方式更能满足范围更宽的测量,非标试验易于实现 ·试验数据大屏幕液晶显示,操作按键人性化设计 ·可设置手动、自动两种试验模式,测量结果自动统计、打印 ·具有电脑通信接口 ·兼容ISO、ASTM等多种测量标准 二、结构组成 本试验仪主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成。测量系统对薄膜进行测量,并输出相应电信号;控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等;输出系统的功能是统计结果的输出,打印试验结果。 三、功能原理简述 本试验仪采用目前世界测量领域最先进的技术成果,确保了测量结果的高精确性,多次测量结果的高度一致性;且操作调试极其方便,几近于自动化操作,最大限度地减少了人为因素对测量结果带来的影响;对于单次测量,仅打印输出测量结果,对于多次测量,可对测量结果进行统计、分析、打印输出;接触面积、测量压力、移动速度等都严格遵循有关标准的规定。 四、主要技术参数 测量范围:0~2mm(常规)(0~6mm可选) 分 辨 率: 0.1μm 测量速度:10次/min(可调) 测量压力:17.5±1kPa(薄膜);〔50±1kPa(纸张)〕 接触面积:50mm2(薄膜);〔200mm2(纸张)〕 电 源:AC 220V,50Hz 外形尺寸:300(L)mm×275(B)mm×300(H)mm 净 重:33kg 五、标准 GB 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 六、操作步骤 上电→设置测量参数→进入测试界面→放置待测薄膜→启动测量→测量结束→打印输出测量结果→试验结束 注:本测量仪有记忆功能,若下次测量参数与上次相同,可直接进入测量,无须再进行参数设置。 七、仪器配置 标准配置:主机、标准量块一件 选 购 件:通信软件、配重砝码盘、配重砝码(按用户要求)
发布日期: 2006年05月29日
有效期: 2008年06月06日